TY  - RPRT
TI  - Quantile regression-enriched event modeling framework for dropout analysis in high-temperature superconductor manufacturing
AU  - Li, Mai
AU  - Lin, Ying
AU  - Feng, Qianmei
AU  - Fu, Wenjiang
AU  - Peng, Shenglin
AU  - Chen, Siwei
AU  - Paidpilli, Mahesh
AU  - Goel, Chirag
AU  - Galstyan, Eduard
AU  - Selvamanickam, Venkat
PY  - 2024
DO  - 10.1007/s10845-024-02358-7
UR  - https://www.osti.gov/biblio/2376992
ID  - 2376992
ER  -