TY  - RPRT
TI  - Using EBIC to Understand Radiation Damage in Electronics.
AU  - Talin, Albert Alec
AU  - Ashby, David Scott
AU  - Garland, Diana
AU  - Esposito, Madeline
AU  - Warecki, Zoey
AU  - Vizkelethy, Gyorgy
AU  - Llinas, Juan Pablo
AU  - Armstrong, Andrew
AU  - Cumings, John
AU  - Marinella, Matthew J
PY  - 2021
DO  - 10.2172/1842659
UR  - https://www.osti.gov/biblio/1842659
ID  - 1842659
ER  -