TY  - RPRT
TI  - Versailles Project on Advanced Materials and Standards interlaboratory study on intensity calibration for x-ray photoelectron spectroscopy instruments using low-density polyethylene
AU  - Reed, Benjamen P.
AU  - Cant, David H.
AU  - Spencer, Steve J.
AU  - Carmona-Carmona, Abraham Jorge
AU  - Bushell, Adam
AU  - Herrera-Gómez, Alberto
AU  - Kurokawa, Akira
AU  - Thissen, Andreas
AU  - Thomas, Andrew G.
AU  - Britton, Andrew J.
AU  - Bernasik, Andrzej
AU  - Fuchs, Anne
AU  - Baddorf, Arthur P.
AU  - Bock, Bernd
AU  - Theilacker, Bill
AU  - Cheng, Bin
AU  - Castner, David G.
AU  - Morgan, David J.
AU  - Valley, David
AU  - Willneff, Elizabeth A.
AU  - Smith, Emily F.
AU  - Nolot, Emmanuel
AU  - Xie, Fangyan
AU  - Zorn, Gilad
AU  - Smith, Graham C.
AU  - Yasufuku, Hideyuki
AU  - Fenton, Jeffery L.
AU  - Chen, Jian
AU  - Counsell, Jonathan P.
AU  - Radnik, Jörg
AU  - Gaskell, Karen J.
AU  - Artyushkova, Kateryna
AU  - Yang, Li
AU  - Zhang, Lulu
AU  - Eguchi, Makiho
AU  - Walker, Marc
AU  - Hajdyła, Mariusz
AU  - Marzec, Mateusz M.
AU  - Linford, Matthew R.
AU  - Kubota, Naoyoshi
AU  - Cortazar-Martínez, Orlando
AU  - Dietrich, Paul
AU  - Satoh, Riki
AU  - Schroeder, Sven M.
AU  - Avval, Tahereh G.
AU  - Nagatomi, Takaharu
AU  - Fernandez, Vincent
AU  - Lake, Wayne
AU  - Azuma, Yasushi
AU  - Yoshikawa, Yusuke
AU  - Shard, Alexander G.
PY  - 2020
DO  - 10.1116/6.0000577
UR  - https://www.osti.gov/biblio/1784150
ID  - 1784150
ER  -