TY  - RPRT
TI  - Curvature effects on electric-double-layer capacitance
AU  - Yang, Jie
AU  - Gallegos, Alejandro
AU  - Lian, Cheng
AU  - Deng, Shengwei
AU  - Liu, Honglai
AU  - Wu, Jianzhong (ORCID:0000000245825941)
PY  - 2021
DO  - 10.1016/j.cjche.2020.10.039
UR  - https://www.osti.gov/biblio/1778403
ID  - 1778403
ER  -