TY  - RPRT
TI  - Nanomechanical testing system
AU  - Vodnick, David James
AU  - Dwivedi, Arpit
AU  - Keranen, Lucas Paul
AU  - Okerlund, Michael David
AU  - Schmitz, Roger William
AU  - Warren, Oden Lee
AU  - Young, Christopher David
PY  - 2014
UR  - https://www.osti.gov/biblio/1143650
ID  - 1143650
ER  -