TY  - RPRT
TI  - Destructive Single-Event Effects in Diodes
AU  - Casey, Megan C.
AU  - Lauenstein, Jean-Marie
AU  - Campola, Michael J.
AU  - Wilcox, Edward P.
AU  - Phan, Anthony M.
AU  - Label, Kenneth A.
PY  - 2017
UR  - https://ntrs.nasa.gov/citations/20170006039
ID  - 20170006039
ER  -