TY  - RPRT
TI  - Design for ASIC reliability for low-temperature applications
AU  - Chen, Yuan
AU  - Mojaradi, Mohammad
AU  - Westergard, Lynett
AU  - Billman, Curtis
AU  - Cozy, Scott
AU  - Burke, Gary
AU  - Kolawa, Elizabeth
PY  - 2005
UR  - https://ntrs.nasa.gov/citations/20060044221
ID  - 20060044221
ER  -